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Pó de bancada X

Pó de bancada X

Visão geral Instrumento de difração de raios X modelo DW-XRD-Y3000 Descrição do produto O difratômetro da série Y3000 f
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Descrição

Overview
Informação básica.
Modelo NÃO.DW-XRD-Y3000
PersonalizadoNão personalizado
Pacote de TransportePacote padrão
Marca comercialDesenhar
OrigemChina
Capacidade de produção200 peças por ano
Descrição do produto

Instrumento de difração de raios X modelo DW-XRD-Y3000

Descrição do produto

O difratômetro da série Y3000 foi projetado para pesquisa de materiais e análise de produtos industriais. É a combinação perfeita de

análise convencional com produtos de medição para fins especiais.
•A combinação perfeita de sistemas de hardware e software atende às necessidades de acadêmicos e pesquisadores em diferentes áreas de aplicação.
  • Sistema de medição de ângulo de difração de alta precisão obtém resultados mais precisos
  • A alta estabilidade do sistema de controle do gerador de raios X proporciona uma precisão de repetibilidade mais estável
  • Operação programável, design de estrutura integrada, operação fácil, aparência elegante.
A difração de raios X (XRD) é um instrumento de teste versátil para revelar a estrutura cristalina e informações químicas:
  • Amostras desconhecidas em uma variedade de identificação de fase
  • Amostras mistas com análise de fase quantitativa conhecida
  • Análise da estrutura cristalina
  • A estrutura cristalina muda sob condições não convencionais (alta temperatura, condições de baixa temperatura)
•Análise do filme superficial do material
•Análise da textura e tensão do material metálico
Parâmetro técnico
Potência nominal3kW

Tensão do tubo

10-60kV

Corrente do tubo

5-80mA
Tubo de raios Xtubo de vidro, tubo cerâmico, tubo cerâmico ondulado: Cu, Fe, Co, Cr, Mo etc, Potência 2kW

Tamanho do foco

1 x 10 mm ou 0,4 x 14 mm ou 2 x 12 mm
Estabilidade≤0,01%
Estrutura do goniômetroHorizontal (θ-2θ)

Raio de difração

185 mm
Alcance de digitalização0-164
Velocidade de digitalização0,0012° - 70° min
Máx. velocidade de rotação100° /min
Moda de digitalização ligação θ-2θ, ação única θ,2θ; digitalização contínua ou escalonada
Precisão repetível de ângulo1/1000°
Ângulo de passo mínimo1/1000°

Detector

contadores proporcionais (PC) ou contadores de cintilação (SC)
Taxa de contagem de linearidade5 x 105CPS (com a função de compensação de contagem de interrupções)
Taxa de resolução de energia≤25% (PC),≤50% (SC)
Contando modacoeficiente diferencial ou integral, PHA automaticamente, regulação do tempo morto
Benchtop Powder X-ray Diffraction Xrd Instrument Lab Instrument Xrd Analyzer Spectrometer

Benchtop Powder X-ray Diffraction Xrd Instrument Lab Instrument Xrd Analyzer Spectrometer

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